Kurniasih S, Alifia K, Ramdhany T. Rancang Bangun Aplikasi Sistem Pakar Untuk Mendiagnosis Kerusakan Integrated Circuit (IC) Pada iPhone Dengan Metode Forward Chaining. JOMMIT [Internet]. 2023 Dec. 31 [cited 2025 Apr. 5];7(2):124-9. Available from: https://ojsdemo.polimedia.ac.id/index.php/jommit/article/view/917