Kurniasih, Sri, Kaniza Alifia, and Tri Ramdhany. “Rancang Bangun Aplikasi Sistem Pakar Untuk Mendiagnosis Kerusakan Integrated Circuit (IC) Pada IPhone Dengan Metode Forward Chaining”. JoMMiT : Jurnal Multi Media dan IT 7, no. 2 (December 31, 2023): 124–129. Accessed April 5, 2025. https://ojsdemo.polimedia.ac.id/index.php/jommit/article/view/917.